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Trap-Assisted Tunneling on Extended Defects in Tunnel Field-Effect Transistors

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Metadaten
Author: Manfred Reiche, Martin Kittler, Hartmut Übensee, Michael Krause, Eckhard Pippel
DOI:https://doi.org/10.7567/JJAP.53.04EC03
ISSN:1347-4065
Title of the source (English):Japanese Journal of Applied Physics
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2014
Contributing Corporation:IHP, MPI Halle, CIS Erfurt
Volume/Year:53
Issue number:4S, 04EC03
First Page:1
Last Page:6
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Schaltkreisentwurf
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Schaltkreisentwurf
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