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On the Recovery Time of Highly Robust Low-Noise Amplifiers

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Metadaten
Author: Armin Liero, Mike Dewitz, Silvio Kühn, Nidhi Chaturvedi, Jijun Xu, Matthias Rudolph
DOI:https://doi.org/10.1109/TMTT.2010.2041519
ISSN:0018-9480
Title of the source (English):IEEE transactions on microwave theory and techniques
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2010
Tag:Amplifier noise; integrated circuit (MMIC) amplifiers; integrated circuit noise; microwave field-effect transistor (FET) amplifiers; monolithic microwave integrated circuit (MMIC) amplifiers; noise; semiconductor device noise
Volume/Year:58
Issue number:4
First Page:781
Last Page:787
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / Ulrich-Rohde-Stiftungsprofessur für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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