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Analysis of Hot-Carrier Degradation in 22nm FDSOI Transistors Using RF Small-Signal Characteristics

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Metadaten
Author: Dang Khoa Huynh, Quang Huy Le, Pardeep Duhan, Defu Wang, Thomas Kämpfe, Matthias Rudolph
URL:https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/9080227
ISBN:978-3-9820-3971-8
ISBN:978-1-7281-4206-7
ISSN:2167-8022
Title of the source (English):2020 German Microwave Conference (GeMiC), 09-11 March 2020, Cottbus, Germany
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway
Document Type:Conference publication peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2020
First Page:244
Last Page:247
Article number:INSPEC Accession Number: 19575339
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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