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Band gap and electronic structure determination with XAS and UPS of thin Pr-oxide films on Si(111)

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Metadaten
Author: Olaf Seifarth, A. Wilke, Christian Walczyk, Jarek Marek Dabrowski, Peter Zaumseil, Dieter SchmeißerORCiD, Hans-Joachim Müssig, Thomas Schroeder
Title of the source (English):Proceedings of 15th Workshop on Dielectrics in Microelectronics, Bad Saarow, 23 - 25 June 2008, Bad Saarow (Berlin)
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2008
Tag:Si(111); UPS; XAS; band gab
First Page:285
Last Page:286
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik
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