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Hardware/Software Based Hierarchical Self Test for SoCs

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Metadaten
Author: René Kothe, Christian Galke, Sabine Schultke, Henry Fröschke, Steffen Gaede, Heinrich Theodor Vierhaus
ISBN:1-4244-0185-2
Title of the source (English):Proceedings of the 2006 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, April 18-21, 2006, Prague, Czech Republic
Publisher:IEEE Service Center
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2006
First Page:157
Last Page:158
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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