Test Pattern De-/Compaction for SoC Test in a Test Processor Environment
Author: | Christian Galke, M. Grabow, Heinrich Theodor Vierhaus |
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Document Type: | Conference Proceeding |
Language: | English |
Year of publication: | 2003 |
Quelle aus UBICO: | 8th IEEE European Test Workshop, Maastricht, May 2003 (Poster-Session) |
Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik |
Institution name at the time of publication: | Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik |