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Test Pattern De-/Compaction for SoC Test in a Test Processor Environment

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Metadaten
Author: Christian Galke, M. Grabow, Heinrich Theodor Vierhaus
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2003
Quelle aus UBICO:8th IEEE European Test Workshop, Maastricht, May 2003 (Poster-Session)
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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