• search hit 2 of 9
Back to Result List

Localization of Trapping Effects in GaN HEMTs with Pulsed S-parameters and Compact Models

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Petros Beleniotis, Frank Schnieder, Serguei A. Chevtchenko, Matthias Rudolph
DOI:https://doi.org/10.23919/EuMIC54520.2022.9923511
ISBN:978-2-87487-070-5
ISBN:978-1-6654-5880-1
Title of the source (German):17th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC)
Document Type:Conference publication peer-reviewed
Language:German
Year of publication:2022
First Page:149
Last Page:152
Way of publication:Open Access
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.