• search hit 8 of 30
Back to Result List

Microscopic and Spectroscopic Characterization of Interfaces and Dielectric Layers for OFET Devices

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Dieter SchmeißerORCiD, Yevgen Burkov, Ioanna Paloumpa, Dipankar MandalORCiDGND, Karsten HenkelORCiDGND
Document Type:Article
Language:English
Year of publication:2008
Quelle aus UBICO:Physica Status Solidi : A 205(2008)3, S. 600-611, 1862-6300
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.