Microscopic and Spectroscopic Characterization of Interfaces and Dielectric Layers for OFET Devices
Author: | Dieter SchmeißerORCiD, Yevgen Burkov, Ioanna Paloumpa, Dipankar MandalORCiDGND, Karsten HenkelORCiDGND |
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Document Type: | Article |
Language: | English |
Year of publication: | 2008 |
Quelle aus UBICO: | Physica Status Solidi : A 205(2008)3, S. 600-611, 1862-6300 |
Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie |
Institution name at the time of publication: | Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik |