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Degradation properties of MOVPE-grown GaInP/GaAs HBTs under combined temperatureand current stressing

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Metadaten
Author: Matthias Rudolph, Joachim Würfl, Paul Kurpas, F. Brunner, M. Mai
Document Type:Scientific journal article not peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2001
Quelle aus UBICO:Microelectronics reliability 41(2001)8, S. 1103 - 1108, 0026-2714
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / Ulrich-Rohde-Stiftungsprofessur für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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