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Electronic Properties of the Interface Formed by Pr2o3 Growth on Si(001), Si(111)and SiC(0001) Surfaces

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Metadaten
Author: Dieter SchmeißerORCiD, Patrick Hoffmann, Guido Beuckert
Editor: Ehrenfried ZschechORCiD, Caroline Whelan
Document Type:Part of a book (chapter)
Language:English
Year of publication:2005
Quelle aus UBICO:Zschech, Ehrenfried (Hrsg.): Materials for information technology : devices, interconnects and packaging. - Berlin [u.a.] : Springer, 2005, S. 449-460, 1-85233-941-1 (Engineering materials and processes )
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik
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