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VTE - A new Method for Characterisation of Thin Film Properties

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Metadaten
Author: Olaf Kahle, C. Uhlig, Monika BauerGND
ISBN:0-7803-7220-4
Title of the source (English):Proceedings presented at POLYTRONIC 2001, Potsdam, Germany, October 21 - 24, 2001
Publisher:IEEE Service Center
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2001
Faculty/Chair:Fakultät 2 Umwelt und Naturwissenschaften / FG Polymermaterialien
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Polymermaterialien
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