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Soft X-ray emission electron microscopy: chemical state microscopy from interface and bulk

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Metadaten
Author: A. Zimina, David R. Batchelor, S. Eisebitt, Dieter SchmeißerORCiD, A. Shukalov, W. Eberhardt
Document Type:Article
Language:English
Year of publication:2008
Tag:bulk; interface; microscopy; x-ray
Quelle aus UBICO:Surface and Interface Analysis 40(2008)5, S. 958-960, 1096-9918
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik
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