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Preparation and Characterization of Ge Epitaxially Grown on Nano-structured Periodic Si Pillars and Bars on Si(001) Substrate

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Metadaten
Author: Peter Zaumseil, Yuji Yamamoto, Joachim Bauer, Markus Andreas Schubert, Jana Matejova, Grzegorz Kozłowski, Thomas Schröder, Bernd Tillack
DOI:https://doi.org/10.1016/j.tsf.2011.10.178
ISSN:0040-6090
Title of the source (English):Thin Solid Films
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2012
Volume/Year:520
Issue number:8
First Page:3240
Last Page:3244
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Halbleitermaterialien
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Halbleitermaterialien
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