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Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy study of the electroforming in Ti/HfO2-based resistive switching structures

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Author: Małgorzata Sowinska, Thomas Bertaud, Damian Walczyk, Sebastian Thiess, Markus Andreas Schubert, Mindaugas Lukosius, W. Drube, Christian Walczyk, Thomas Schröder
ISSN:0003-6951
Title of the source (English):Applied Physics Letters
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2012
Volume/Year:100
Issue number:23
First Page:233509
Last Page:233514
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Halbleitermaterialien
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Halbleitermaterialien
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