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Low Leakage Highly Stable Robust Ultra Low Power 8T SRAM Ce

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Author: Neha Gupta, Tanisha Gupta, Sajid Khan, Abhinav Vishwakarma, Santosh Kumar Vishvakarma
DOI:https://doi.org/10.1007/978-981-32-9767-8_53
ISBN:978-981-32-9766-1
ISBN:978-981-32-9767-8
Title of the source (English):VLSI Design and Test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Publisher:Springer
Place of publication:Singapore
Document Type:Conference publication not peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2019
First Page:643
Last Page:654
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
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