TY - CHAP A1 - Carretero, A. A1 - Schnitzer, S. A1 - Hoffmann, H. A1 - Bönisch, Sven T1 - Potential Induced Degradation (PID) in Utility-Scale PV Plants: Fast Detection using String-Monitoring Systems T2 - Photovoltaik-Meeting, Anwendungen - Qualität - Perspektiven, Senftenberg 16.04.2014 Y1 - 2014 SP - 2 EP - 6 CY - Senftenberg ER - TY - GEN A1 - Saul, Enrico A1 - Bönisch, Sven A1 - Heinrich, Ralf A1 - Karsten, Uwe ED - Garbe, Heyno T1 - Untersuchungen zur Messunsicherheit bei der Kalibrierung von E-Feldsonden T2 - EMV 2016 - Internationale Fachmess und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit N2 - Die bestehende Akkreditierung eines E-Feldsondenkalibrierplatzes sollte von maximal 8 GHz auf maximal 18 GHz erweitert werden. Dazu war es notwendig den Kalibrierplatz, die verwendeten Messgeräte und andere verwendeten Komponenten auf ihre Tauglichkeit hin zu untersuchen. Als die grundlegende Tauglichkeit festgestellt wurde konnte mit der Ermittlung der einzelnen Unsicherheitsbeiträge begonnen werden. Hierbei konnte auf bestehende Kalibrierungen vieler Komponenten zurückgegriffen werden. Durch die ständige Weiterentwicklung der Technologie sind so ausgezeichnete Kalibrierungen dieser Komponenten möglich. Nicht kalibrierbare Eigenschaften des Messplatzes mussten mit einer hinreichenden Genauigkeit gesondert untersucht werden. Dazu zählen die Reflexionseigenschaften des Raumes, frequenzabhängige Eigenschaften der Antennen und die Alterung von Komponenten. Die Berechnung der Gesamtmessunsicherheit des Kalibrierplatzes konnte dann mit Hilfe des GUM und des GUM S1 erfolgen. Dabei handelt es sich um zwei unterschiedliche Ansätze zur Berechnung. Da die Berechnung nach GUM S1 eine MonteCarlo-Simulation ist wurde diese unter Verwendung numerischer Software in abgewandelter Form implementiert. Bei der Erstellung von Messunsicherheitsbudgets kann auf bestehende Kalibrierungen zurückgegriffen werden, dies geschieht in der Regel für die offensichtlichen Unsicherheitsbeiträge, z. B. Leistungsmessung und Antennenkalibrierung. Diese Verfahren werden sehr gut beherrscht und bieten eine ausgezeichnete Basis. Durch diese geringen Beiträge müssen weniger offensichtliche Unsicherheitsquellen besser untersucht werden, z.B. frequenzabhängige Eigenschaften der Antennen oder Alterungserscheinungen an Komponenten, hier ist der größte Neuheitsgehalt zu finden. Des weiteren konnte unter Verwendung moderner Rechentechnik ein neues und vereinfachtes Verfahren zur Berechnung des Messunsicherheitsbudgets nach GUM S1 hergeleitet werden. Literaturangaben [1] IEEE Standards Association: IEEE Standard for Calibration of Electromagnetic Field Sensors and Probes (Excluding Antennas) from 9 kHz to 40 GHz, IEEE Std 1309TM -2013 [2] Joint Committee for Guides in Metrology: Evaluation of measurement data – Guide to the expression of uncertainty in measurement, JCGM 100:2008 [3] Joint Committee for Guides in Metrology: Evaluation of measurement data – Supplement 1 to the „Guide to the expression of uncertainty in measurement“ - Propagation of distributions using a Monte Carlo method, JCGM 101:2008 [4] Joint Committee for Guides in Metrology: International vocabulary of metrology – Basic and general concepts and associated terms(VIM), JCGM 200:2008 KW - Messunsicherheit KW - GUM KW - Kalibrierung KW - Feldsonde KW - Messunsicherheitsbudget Y1 - 2016 SN - 978-3-86359-396-4 SP - 139 EP - 146 PB - Apprimus Verlag CY - Aachen ET - 1. Auflage ER - TY - CHAP A1 - Hemp, Ionel A1 - Göhler, Lutz A1 - Bönisch, Sven T1 - An automated Test Set-up for the dynamic Characterization of IGBT Modules under different thermal and electrical Conditions T2 - PCIM 2013, International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, Nürnberg, 14 - 16 May 2013 Y1 - 2013 SN - 978-3-8007-3505-1 SP - 888 EP - 895 PB - VDE-Verlag CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Bucke, Danny A1 - Hemp, Ionel A1 - Göhler, Lutz A1 - Bönisch, Sven T1 - Conducted emission simulation of an industrial high power current source T2 - EMC-Europe 2013, International Symposium Electromagnetic Compatibility, Brugge, Belgium 2. - 6. September 2013 Y1 - 2013 SP - 676 EP - 681 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Saul, Enrico A1 - Bönisch, Sven ED - Lehmann, Kathrin ED - Simon, Sylvio ED - Stein, Erhard T1 - Untersuchungen von Antennenstrukturen für Störfestigkeitstests im Nahfeld T2 - 1. Ingenieurtag 2014, Veranstaltung der Fakultät Ingenieurwissenschaften und Informatik der Brandenburgischen Technischen Universität Cottbus-Senftenberg auf dem Campus Senftenberg am 19.11.2014 Y1 - 2014 SN - 3-9810211-7-7 PB - Brandenburgische Techn. Univ. CY - Senftenberg ER -