TY - CHAP A1 - Kretzschmar, Claudia A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Hierarchical Self Test Scheme for SoCs Y1 - 2004 ER - TY - CHAP A1 - Gätzschmann, Uwe A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor A1 - Kaibel, M. T1 - Ein flexibler Ansatz für den Scan-Test von SoCs Y1 - 2005 ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Multi-Purpose Concept for SoC Self Test Including Diagnostics Features T2 - 11th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2005, IOLTS 2005, 6 - 8 July 2005, [Saint Raphael, French Riviera, France, proceedings] Y1 - 2005 SN - 0-7695-2406-0 SP - 241 EP - 246 PB - Los Alamitos, Calif. [u.a.] CY - IEEE Computer Society ER - TY - CHAP A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor A1 - Dabrowski, Adam T1 - Transistor- and Gate Level Self Repair for Logic Circuits T2 - Signal processing '2005, workshop proceedings, Poznan, 30th September 2005 Y1 - 2005 SN - 83-913251-6-4 SP - 7 EP - 12 CY - Poznan ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Logic Self Repair T2 - Workshop proceedings, ARCS '06, 19th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 16, 2006, Frankfurt am Main Y1 - 2006 SN - 978-3-88579-175-1 SP - 36 EP - 44 PB - Ges. für Informatik CY - Bonn ER - TY - CHAP A1 - Krautz, U. A1 - Pflanz, Matthias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor A1 - Jacobi, C. A1 - Tast, H. W. T1 - Evaluating Coverage of Error Detection Logic for Soft Errors using Formal Methods T2 - Design, automation and test in Europe, Munich, Germany, March 6 - 10, 2006, proceedings, vol. 1 Y1 - 2006 SN - 3-9810801-1-4 SP - 176 EP - 181 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Pflanz, Matthias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Control Signal Protection - A New Challenge for High Performance Processors T2 - Proceedings, 9th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2003, 7 - 9 July 2003, Kos International Convention Center, Kos Island, Greece Y1 - 2003 SN - 0-7695-1968-7 SP - 173 EP - 177 PB - IEEE Computer Society CY - Los Alamitos, Calif. [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor A1 - Rossmann, Helmut T1 - Power-Timing Optimierung für Zellen-basierte Digitalschaltungen in Submikron-Technologien T2 - Informatik 2005 - Informatik LIVE!, Beiträge der 35. Jahrestagung der Gesellschaft für Informatik e.V., 19. - 22. September 2005 in Bonn, Bd. 1 Y1 - 2005 SN - 3-88579-396-2 SP - 339 EP - 343 PB - Gesellschaft für Informatik CY - Bonn ER - TY - THES A1 - Misera, Silvio Andre T1 - Simulation von Fehlern in digitalen Schaltungen mit SystemC KW - Digitalschaltung KW - SystemC KW - Fehlererkennung KW - Fehlerbehandlung KW - Fehlersimulation Y1 - 2007 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus-4063 ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario T1 - HW / SW Co-Detection of Transient and Permanent Faults with Fast Recovery in Statically Scheduled Data Paths T2 - 2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, DATE 2010, Dresden, Germany, 8 - 12 March 2010 Y1 - 2010 SN - 978-1-4244-7054-9 SP - 723 EP - 728 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario T1 - Software-Based Self-Repair of Statically Scheduled Superscalar Data Paths Y1 - 2010 ER - TY - GEN A1 - Gleichner, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik N2 - 22. ITG/GI/GMM Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", 28.Feb.-02.März 2010 Y1 - 2010 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Basic Architecture for Logic Self Repair Y1 - 2008 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Eingebaute Selbstreparatur zur Kompensation von Produktions- und Alterungsfehlern Y1 - 2010 ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario T1 - Möglichkeiten und Grenzen der Software-basierten Selbstreparatur in statisch geplanten superskalaren Prozessorarchitekturen Y1 - 2010 ER - TY - THES A1 - Scheit, Daniel T1 - Fault-tolerant integrated interconnections based on built-in self-repair and codes KW - Test KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlertoleranz KW - Selbstreparatur Y1 - 2011 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus-22679 ER - TY - CHAP ED - Vierhaus, Heinrich Theodor ED - Steininger, Andreas ED - Pawlak, A. ED - Kraemer, Rolf ED - Schölzel, Mario ED - Raik, Jaan T1 - IEEE 14th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2011), Cottbus, Germany, 13 - 15 April 2011 N2 - Konferenzband, erstellt und gedruckt von BTU Cottbus, Rechte bei IEEE Computer Society KW - Design KW - Test KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2011 UR - http://www.ieee.org SN - 978-1-4244-9755-3 ER - TY - JOUR A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Scan Controller Concept for Low-Power Scan Test KW - Test KW - Low-Power Y1 - 2008 N1 - American Science Publishers Inc. ER - TY - JOUR A1 - Misera, Silvio Andre A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Simulated fault injections and their acceleration in system C KW - Fehlersimulation Y1 - 2008 N1 - Elsevier BV ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Optimal Spare Utilization for Reliability and Men Litetime Improvement for Logic Built-in Self Repair T2 - Proceedings, IEEE DDECS 2011, Cottbus N2 - Tagungsbeitrag DDECS 2011, Cottbus KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2011 UR - www.computer.org SN - 978-1-4244-9753-9 N1 - IEEE Computer Society ER -