TY - THES A1 - Calvet, Wolfram T1 - Präparation und in-situ Charakterisierung MBE-gewachsener Kupferindiumdisulfid-Schichten KW - Halbleitergrenzflächen KW - Photovoltaik KW - Dünne Schichten KW - Chalkopyrite KW - CuInS2 KW - MBE Y1 - 2002 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-000000242 UR - http://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/47 ER - TY - THES A1 - Goryachko, Andriy T1 - Investigations of perspective materials for aggressively scaled gate stacks and contact structures of MOS devices KW - silicon KW - praseodymium oxide KW - tungsten nitride KW - tungsten silicide KW - cobalt silicide KW - scanning tunneling microscopy KW - Angerelection spectroscopy Y1 - 2002 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-000000342 UR - http://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/59 ER - TY - THES A1 - Schweizer, Stefan T1 - Dynamisches Verhalten von Silizium-Elektroden in Fluor-haltigen Elektrolyten KW - Silizium KW - Oxidation KW - Voltammogramme KW - Injektion KW - AFM Y1 - 2004 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-000000526 UR - http://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/80 PB - Brandenburgische Techn. Univ. CY - Cottbus ER - TY - THES A1 - Meier, Ulrich T1 - Grenzflächenverhalten und Morphologie des ZnO/Si-Heterokontaktes: Eine Photoemissionsstudie KW - ZnO KW - Si KW - interface reaction KW - xPS KW - PES KW - photoelectron spectroscopy KW - solar cells KW - thin film KW - Zn(OH)2 KW - hydrogen KW - chemical beam deposition KW - magnetron sputtering KW - MOCBD Y1 - 2004 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-000000551 UR - http://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/71 ER - TY - THES A1 - Tavakoli, Mohammad Hossein T1 - Numerical analysis of seeding process during Czochralski growth of oxide single crystals KW - Kristallzüchtung KW - Czochralski-Verfahren KW - Ankeimprozess KW - Temperaturverteilung Y1 - 2006 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus-145 UR - http://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/12 ER - TY - THES A1 - Lupina, Grzegorz T1 - Praseodymium Silicate high-k dielectrics on Si(001) KW - High-k dielectrics KW - Praseodymium silicate KW - XPS Y1 - 2006 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus-421 UR - http://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/36 ER - TY - THES A1 - Meyer, Moritz Andreas T1 - Effects of advanced process approaches on electromigration degradation of Cu on-chip interconnects KW - Elektromigration Y1 - 2007 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus-3509 UR - http://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/343 ER - TY - THES A1 - Sohal, Rakesh T1 - CVD growth of (001) and (111) 3C-SiC epilayers and their interface reactivity with praseodymium oxide dielectric layers KW - Siliciumcarbid KW - Kristallfläche KW - Dielektrische Schicht KW - CVD-Verfahren Y1 - 2006 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus-121 UR - http://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/13 ER - TY - THES A1 - Lehmann, Carsten T1 - Elektronische Struktur dünner Halbleiterfilme (Chalkopyrite) als Absorbermaterialien für Dünnschichtsolarzellen KW - Photovoltaik KW - Dünnschichtsolarzelle Y1 - 2007 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus-4319 UR - http://opus.kobv.de/btu/volltexte/2008/431/ ER - TY - THES A1 - Mandal, Dipankar T1 - Ultra-thin films of a ferroelectric copolymer: P(VDF-TrFE) KW - Grenzflächenchemie KW - Photoelektronenspektroskopie KW - Polymerfilm Y1 - 2008 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus-5628 UR - http://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/439 ER -