TY - GEN A1 - Gleichner, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik N2 - 22. ITG/GI/GMM Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", 28.Feb.-02.März 2010 Y1 - 2010 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Eingebaute Selbstreparatur zur Kompensation von Produktions- und Alterungsfehlern Y1 - 2010 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren zur Fehlerkompensation und Selbstreparatur für hochintegrierte Schaltungen T2 - Zuverlässigkeit und Entwurf, 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 13. bis 15. September 2010 in Wildbad Kreuth KW - ICs KW - Fehler KW - Test KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-3-8007-3299-9 N1 - VDE SP - 57 EP - 62 PB - VDE-Verlag CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Software Based Self Test and Hardware Reconfiguration Solution for VLIW Processors T2 - 2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010 KW - Prozessoren KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-1-4244-6612-2 N1 - IEEE Computer Society SP - 40 EP - 43 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Combining De-Stressing and Self Repair for Long-Term Dependable Systems T2 - 2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010 KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Test KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-1-4244-6613-9 N1 - IEEE Computer Society SP - 99 EP - 104 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Gleichner, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik N2 - Tagungsbeitrag ITG-GI-GMM Workshop "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", Paderborn, Februar 2010 KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Test Data and Power Reductions for Transition Delay Tests for Massive Parallel Scan Structures T2 - 2010 13th Euromicro Conference on Digital System Design, Architectures, Methods and Tools (DSD 2010), Lille, France, 1 - 3 September 2010 KW - ICs KW - Test KW - low-power Y1 - 2010 N1 - IEEE Computer Society SP - 283 EP - 290 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Gleichner, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Effective Logic Self Repair Based on Extracted Logic Clusters T2 - Signal Processing Algorithms, Architectures, Arrangements, and Applications Conference Proceedings (SPA), 2010, Poznan KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-1-4577-1485-6 N1 - BTU PB - IEEE ER -