TY - THES A1 - Meier, Ulrich T1 - Grenzflächenverhalten und Morphologie des ZnO/Si-Heterokontaktes: Eine Photoemissionsstudie KW - ZnO KW - Si KW - interface reaction KW - xPS KW - PES KW - photoelectron spectroscopy KW - solar cells KW - thin film KW - Zn(OH)2 KW - hydrogen KW - chemical beam deposition KW - magnetron sputtering KW - MOCBD Y1 - 2004 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-000000551 UR - http://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/71 ER -