TY - CHAP A1 - Schacht, Ralph A1 - Punch, Jeff A1 - Merten, Enrico A1 - Rzepka, Sven A1 - Michel, Bernd T1 - Thermo-fluidisch experimentelle Untersuchung sowie CFD-Simulation für eine Leiterplatte mit Flip-Chip Aufbauten im Windkanal T2 - Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2016, multifunktionale Baugruppen - Leistungsdichte am Limit?, 8. DVS/GMM-Tagung vom 16.-17. Februar 2016 in Fellbach N2 - Die Konzentration von elektronischen und mechanischen Komponenten auf einer Leiterplatte (z.B. Main board) nimmt ständig zu. Dies führt zu höheren Verlustleistungsdichten und somit zu strengeren Anforderungen an das thermische Management. In momentanen und zukünftigen luftgekühlten Anwendungen wird, neben der reinen konduktiven Interaktion zwischen elektronischen Komponenten über die Leiterplatte, zukünftig auch die fluidische Interaktion der natürlichen und forcierten Konvektion während des Leiterplattendesigns mit zu berücksichtigen sein. Der Schaltkreisentwickler benötigt hier zusätzliche Informationen über die thermo-fluidisch gekoppelten Einflüsse zwischen den kritischen wärmedissipierenden Komponenten sowie fluidischer Überlagerungen in Folge anderer angrenzender Komponenten oder mechanischer Komponentengehäuse. In der Vergangenheit wurden zahlreiche Benchmark-Studien zu konvektiven und konduktiven thermischen Interaktionen für verschiedene kommerziell erhältliche mikroelektrische Gehäusetypen veröffentlicht. Heutzutage hat sich die Flip-Chip (FC) Aufbautechnologie von ungehäusten Chips (bare dies) etabliert. Von daher besteht der Bedarf für eine thermische Benchmark Studie für FC Aufbauten. Die vorliegende Studie untersucht die natürlichen und forcierten thermo-fluidischen Einflüsse zwischen ungehäusten FC’s und anderen Komponenten, welche auf mehreren Testleiterplattendesigns aufgebaut und mit der CFD-Simulation verglichen wurden. Ein Vergleich der ersten analysierten Scenarios zeigt eine nachvollziehbare Übereinstimmung zwischen den experimentellen und den Simulationsergebnissen. KW - CFD KW - Flip-Chip KW - Thermo-fluidsich Y1 - 2016 SN - 978-3-8007-4147-2 SP - 267 EP - 272 PB - VDE Verlag CY - Berlin-Offenbach ER - TY - CHAP A1 - Schacht, Ralph A1 - Rzepka, Sven A1 - Deodat, Andreas A1 - Michel, Bernd T1 - Parametrisches transientes thermo-elektrisches PSPICE Modell für ein zwei-adriges Stromkabel T2 - Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2016, multifunktionale Baugruppen - Leistungsdichte am Limit?, 8. DVS/GMM-Tagung vom 16.-17. Februar 2016 in Fellbach N2 - Aufbauend auf dem bereits einführten transienten thermo-elektrisch gekoppelten Makromodell für ein ein-adriges Stromkabel wird die Adaption auf ein zwei-adriges Stromkabel, sowie deren Verifikation mittels Experiment und einer Finite-Elemente-Simulation vorgestellt. Das parametrische Makromodell ist für den Einsatz in einem Schaltungssimulator wie z.B. PSPICE geeignet. Die Verifikation der statischen und transienten Simulationsergebnisse zwischen ANSYS, PSPICE und Experiment zeigen, je nach den äußeren Randbedingungen eine gute Übereinstimmung. Sowohl mit dem ein-adrigen als auch dem erweiterten zwei-adrigen Makromodell ist es möglich, auf Systemebene schnell für verschiedene thermische Randbedingungen und Kabelgeometrien zu modellieren und somit eine zeitsparende, transient gekoppelte thermo-elektrische Simulation je nach den Randbedingungen des Einbauorts durchzuführen. Hierbei unterstützt die parametrische Modellierung eine Beschreibung der "realen thermischen" Montagebedingungen (z.B. in einem Auto – Motorraum, Fahrzeuginnenraum). Es ermöglicht dem Entwickler sich einen schnellen Überblick über die thermischen Einflüsse und Temperaturen entlang des Stromkabels zu verschaffen und so z.B. bei der Kabelauslegung hinsichtlich Größe und Gewicht (Kupfer Durchmesser, verwendetes Isoliermaterial) sowie dem Einbauort (Wärmeleitung, Konvektion, Strahlung) dieses zu optimieren. KW - Kabel, PSPICE, thermo-elektrisch, transient Y1 - 2016 SN - 978-3-8007-4147-2 SP - 294 EP - 298 PB - VDE Verlag CY - Berlin-Offenbach ER - TY - GEN A1 - Nowak, Torsten A1 - Schacht, Ralph T1 - Coupling Effects during Thermo-Fluidic Analysis of Flip-Chip Devices with Peripheral Components – CFD Simulation and Experimental Study N2 - The amount and concentration of electronic components and passive objects on board level increases rapidly. Furthermore, the complexity between conductive heat spreading and the use of forced thermo-fluidic coupling effects with application near behavior will become a challenge to prevent thermal bottlenecks during layout processing. For printed circuit board (PCB) designer, it would be helpful to consider the estimation of real thermal behavior without time consuming CFD analysis. A thermo-fluidic correction factor according to thermal resistance which should be a function of air velocity, power loss, and distance between active or passive components as well as the dimensions of electronic parts could help thermal engineers during layout process. Backwards, results were published for several benchmark studies with the investigation on convective and conductive interaction on commercially available microelectronic packages. Today, Flip-Chip (FC) assembly process of bare dies become being more up-to-date. A new investigation started to figure out interactions between natural and forced thermo-fluidic behavior of bare FC dies and near different components, mounted on a test PCB. To generate first rough estimations of the real fluid situation behavior current CFD modelling and simulation software are used. A suitable agreement between CFD simulation results and experimental analysis will be presented. KW - CFD, Flip-Chip, thermo-fluidic Experiment Y1 - 2016 N1 - 14th Multiphase Flow Conference and Short Course- Multiphase Flows - Simulation, Experiment and Application, November 2016, Dresden ER - TY - CHAP A1 - Schacht, Ralph T1 - Miniaturisierter reibungsloser Lamellenlüfter T2 - Deutsche IMAPS Konferenz, IMAPS Herbstkonferenz, München, Oktober 2016 N2 - Kommerziell verfügbare miniaturisierte Axial- oder Radial-Lüfterkonzepte basieren auf einem kugelgelagerten Prinzip, welche, aufgrund von Reibung sich abnutzen und somit eine relativ geringe Lebensdauer (MTTF < 14000 h) haben. Die am Markt verfügbaren reibungslosen Lüfterkonzepte wie Piezo-Lüfter (Nutzung des Piezo-elektrischer Effektes) oder Synthetic-Jet Lüfter (Lautsprecherprinzip) weisen, aufgrund des Aufbaukonzepts, eine geringere Alterung auf. Im Fall des Piezo Lüfter-Lamellen-Konzepts wird die MTTF mit > 4600h angegeben, da es im Betrieb zu einer Degradation der Klebeschicht zwischen Lamelle und Piezo-Material kommt. Hinzu kommt, dass das Piezo-Element mit einer Betriebsspannung von > 40 V angeregt werden muss und der Anschaffungspreis, im Vergleich zu den miniaturisierten Axial- und Radiallüftern als auch den Synthetic Jet Lüftern um den Faktor sechs (~ 200 €) höher liegt. Synthetic Jet Lüfter haben zwar eine wesentliche bessere MTTF > 100000 h, allerdings liegen der Formfaktor (Ø 60 mm) und das Gewicht (125 g), verglichen mit dem Piezo Lüfter (60x 15x 30 mm², 10 g, ohne Ansteuerelektronik), wesentlich darüber. Der Ansatz des entwickelnden reibungslosen Lamellen-Lüfterkonzepts greift die Vorteile eines Piezo-Lüfters (Lamelle) und des Synthetic Jet-Lüfters (magnetische Anregung) auf. Dadurch, dass die Lamelle nicht mehr, wie beim Piezo-Lüfter, auf einen Piezo-Aktuator aufgeklebt wird, sondern in einem Körper fixiert und berührungslos angeregt wird, verspricht das Konzept eine wesentlich höhere Lebensdauer. Anwendungen finden sich im Bereich von schwer zugänglichen elektronischen Baugruppengehäusen (z.B. Funkstationen), in welchen die natürliche Konvektion durch eine zuverlässige Umwälzung der Luft ergänzt werden soll, um die Lebensdauer der elektronischen Komponenten zu erhöhen. Im Vortrag werden das Lüfterkonzept, ein miniaturisierter Prototyp (Größe einer Streichholzschachtel) sowie die Performance zur Kühlung von elektronischen Komponenten an einem Anwendungsbeispiel vorgestellt. KW - Lüfter KW - zuverlässig KW - reibungsfrei KW - Lamelle Y1 - 2016 PB - IMAPS-Deutschland e.V. CY - Schmalkalden ER - TY - CHAP A1 - Schacht, Ralph A1 - Punch, Jeff A1 - Merten, Enrico A1 - Rzepka, Sven A1 - Michel, Bernd ED - Schacht, Ralph T1 - Thermo-fluidisch gekoppelte Untersuchung von Flip-Chips auf einer Leiterplatte T2 - Elektronische Baugruppen und Leiterplatten EBL 2016, 8. DVS/GMM-Tagung vom 16.-17. Februar 2016 in Fellbach N2 - Die Konzentration von elektronischen und mechanischen Komponenten auf einer Leiterplatte (z.B. Main board) nimmt ständig zu. Dies führt zu höheren Verlustleistungsdichten und somit zu strengeren Anforderungen an das thermische Management. In momentanen und zukünftigen luftgekühlten Anwendungen wird, neben der reinen konduktiven Interaktion zwischen elektronischen Komponenten über die Leiterplatte, zukünftig auch die fluidische Interaktion der natürlichen und forcierten Konvektion während des Leiterplattendesigns mit zu berücksichtigen sein. Der Schaltkreisentwickler benötigt hier zusätzliche Informationen über die thermo-fluidisch gekoppelten Einflüsse zwischen den kritischen wärmedissipierenden Komponenten sowie fluidischer Überlagerungen in Folge anderer angrenzender Komponenten oder mechanischer Komponentengehäuse. In der Vergangenheit wurden zahlreiche Benchmark-Studien zu konvektiven und konduktiven thermischen Interaktionen für verschiedene kommerziell erhältliche mikroelektrische Gehäusetypen veröffentlicht. Heutzutage hat sich die Flip-Chip (FC) Aufbautechnologie von ungehäusten Chips (bare dies) etabliert. Von daher besteht der Bedarf für eine thermische Benchmark Studie für FC Aufbauten. Die vorliegende Studie untersucht die natürlichen und forcierten thermo-fluidischen Einflüsse zwischen ungehäusten FC’s und anderen Komponenten, welche auf mehreren Testleiterplattendesigns aufgebaut und mit der CFD-Simulation verglichen wurden. Ein Vergleich der ersten analysierten Scenarios zeigt eine nachvollziehbare Übereinstimmung zwischen den experimentellen und den Simulationsergebnissen. KW - CFD KW - Thermischer test Chip Y1 - 2016 SN - 978-3-8007-4147-2 SP - 267 EP - 272 PB - VDE Verlag CY - Berlin, Offenbach ER - TY - CHAP A1 - May, Daniel A1 - Fritsche, S. A1 - Cardoso, A. A1 - Schacht, Ralph A1 - Wunderle, Bernhard T1 - IR Pulse Thermography as Failure Analytical Tool Applied to Die Attach Processes T2 - 21st International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems, Sept. 30 2015 - Oct. 2 2015 N2 - New die attach technologies are necessary to meet the demand for faster and more reliable power electronic devices.Technologies based on sintering such as silver sintering and silver sinter adhesives are currently in the focus of technology development because of their high strength and very high thermal performance. To ensure the reliability of such a die attach reliable, fast and non-destructive failure analysis (FA) are needed. Transient thermal methods (TTM) provide techniques for detection of different types of defects such as delaminations of interfaces, cracks , electrical short circuits and voids in die attach layer [1]–[3]. In this work, pulse thermography (PT), one of the TTMs, was successfully used for nondestructive testing of the die attach layers under industrial conditions. We have studied the physical principles and presented fundamental possibilities and limitations given by formulas, nomograms and parameter sensitivity studies. Finally, we demonstrate the PT as accompanying FA to process qualification of a sintered silver adhesive process. KW - IR Thermography KW - Non-Destrutive Failuer Analysis Y1 - 2015 UR - http://ieeexplore.ieee.org/document/7389622/ SN - 978-1-4673-9705-6 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Abo Ras, Mohamad A1 - May, Daniel A1 - Schacht, Ralph A1 - Bast, M. A1 - Eisle, R. A1 - Michel, Bernd A1 - Winkler, Thomas A1 - Rzepka, Sven A1 - Wunderle, Bernhard T1 - "LaTIMA" an Innovative Test Stand for Thermal and Electrical Characterization of Highly Conductive Metals, Die Attach, and Substrate Materials T2 - 21st International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems, Sept. 30 2015 - Oct. 2 2015 N2 - This paper deals with the development of an innovative test stand for the measurement of thermal and electrical conductivity of metals, semiconductors, highly conductive die attaches and substrates using the steady state technique for thermal characterization and four-terminal sensing with pulse delta technique for electrical characterization. We present a systematic study of sintered silver in order to investigate the influence of sintering conditions on thermal and electrical properties. Several sintered silver samples have been prepared under sintering temperature variation between 200°C and 270°C and sintering pressure variation between 5 MPa and 25 MPa. The characterization results diversify up to 200% for thermal conductivity and up to 330% for electrical conductivity. The Wiedemann-France law describes the relationship between electrical and thermal conductivities for bulk metals. We proved that this law applies not only for bulk metal but also for porous sintered metal. KW - Thermal characterization KW - electrical characterization KW - highly conductive metals KW - die attach KW - substrate materials Y1 - 2015 UR - www.therminic2015.eu SN - 978-1-4673-9705-6 N1 - Best paper award PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - GEN A1 - Schacht, Ralph A1 - Hausdorf, Alexander A1 - Wunderle, Bernhard T1 - Feasibility and Design Study of a Frictionless Air Mover for Thermal Management of Electronics T2 - Journal of Physics: Conference Series N2 - A frictionless air mover concept will be introduced. As opposed to a piezoelectric driven fan, the air mover is based on a flexible blade whose vibration is driven by means of a magnetic field. The blade material is based on a polymer material. The paper presents the results of feasibility and an on-going comprehensive design study. The results are compared with a comparable piezoelectric fan [1, 2]. The performance of the feasibility study amounted to 65% to the piezoelectric fan. To enhance the performance, two different blade materials as well as the influence of the coil shape and value were under investigation. A further goal is to reduce the size and to investigate the influence of a cabinet. The design study results in a prototype of a size of 50 x 14 x 35 mm² incl. a cabinet. The performance could be doubled. A volume flow rate of V̊ ~14 l/min and static pressure of Ƿstat = 3 Pa could be reached. KW - firctionless cooling KW - air mover KW - miniturized fan Y1 - 2014 U6 - https://doi.org/10.1088/1742-6596/525/1/012026 SN - 1742-6596 SN - 1742-6588 VL - 525 SP - 012026 ER - TY - GEN A1 - Sparr, Holger A1 - Hausdorf, Alexander A1 - Jeske, Peter A1 - Kale, Nachiket A1 - Schacht, Ralph A1 - Ziegenhorn, Matthias A1 - Zysk, Oliver T1 - ±270 VDC Aircraft Harness Structural Analysis T2 - Procedia Engineering N2 - This research focuses on the structural analysis of aircraft electrical harnesses for the 270 VDC network. A combined experimental and simulation-based approach is used, where numerical models for the harnesses are developed and experimental data are acquired for basic test cases (steady load, pendulum test, etc.) as well as for different vibration load cases. Validation of the numerical models is done using the preliminary experimental data, resulting in a mature refined model in order to simulate complex scenarios. The goal of the project is thus to develop a suite of tools that allows detailed structural analysis of the aircraft harnesses, both stand alone as well as in combination with other systems KW - ± 270 VDC KW - Aircraft electrical harness KW - Windmilling imbalance KW - Structural analysis KW - Vibration response Y1 - 2015 U6 - https://doi.org/10.1016/j.proeng.2015.08.078 SN - 1877-7058 N1 - ICSI 2015, 1st International Conference on Structural Integrity Funchal, Madeira, Portugal 1st to 4th September, 2015 VL - 114 SP - 346 EP - 353 ER - TY - CHAP A1 - Schacht, Ralph A1 - Punch, Jeff A1 - Merten, Enrico A1 - Rzepka, Sven A1 - Michel, Bernd ED - Schacht, Ralph T1 - Thermo-Fluidic Coupled Analysis of Flip-Chip Mounted Thermal Test Chips on a PCB – a Numerical and Experimental Study T2 - 21st International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems N2 - CFD Analysis of Flip-Chip Mounted Devices on PCB – A Numerical and Experimental Study KW - CFD KW - Flip KW - Chip KW - Thermal Test Chip Y1 - 2015 UR - www.therminic2015.eu SN - 978-1-4673-9705-6 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER -