TY - CHAP A1 - Ulbricht, Markus A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A New Hierarchical Built-In Test with On-Chip Diagnosis for VLIW Processors T2 - IEEE 14th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2011), Cottbus, Germany, 13 - 15 April 2011 N2 - Tagungsbeitrag DDECS 2011, Cottbus KW - Prozessoren KW - Test KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2011 UR - www.computer.org SN - 978-1-4244-9755-3 N1 - IEEE Computer Society SP - 143 EP - 146 ER - TY - CHAP A1 - Ulbricht, Markus A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A New Hiararchical Built-In SElf Test with On-Chip Diagnosis for VLIW Processors N2 - Tagungsbeitrag 23. ITG-Tagung "Test und Zuverlässigeit von Schaltungen und Systemen", Passau, 2011 KW - Prozessoren KW - Test KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2011 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario T1 - Fine-Grained Software-Based Self Repair of VLIW Processors T2 - 2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2011), Vancouver, British Columbia, Canada, 3 - 5 October 2011 KW - Prozessoren KW - Test KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2011 SN - 978-1-4577-1713-0 N1 - IEEE Computer Society SP - 41 EP - 49 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Müller, Sebastian A1 - Schölzel, Mario T1 - Combining Hardware and Software Based Self Repair Methods for Statically Scheduled Data Paths T2 - 2010 IEEE 25th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2010), Kyoto, Japan, 6 - 8 October 2010 KW - Prozessoren KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-1-424-48447-8 N1 - IEEE Computer Society SP - 90 EP - 98 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario T1 - A Delay Estimation of Rescheduling Schemes for Statically Scheduled Processors T2 - Workshop proceedings, ARCS 2009, 22th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 11, 2009, Delft, The Netherlands KW - Prozessoren KW - Fehlertoleranz Y1 - 2009 SN - 978-3-8007-3133-6 N1 - VDI / VDE SP - 117 EP - 124 PB - VDE-Verlag CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario T1 - Reduced Triple Modular Redundancy for Built-in Self Repair in VLIW Processors N2 - Tagungsbeitrag IEEE SPA 2007, Poznan KW - Prozessoren KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2007 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario T1 - Ein hybrides Selbsttest- und Reparaturkonzept für VLIW-Prozessoren N2 - Tagungsbeitrag 20. ITG-GI-GMM-Workshop "Zuverlässiglkeit und Entwurf", Wien, Februar 2008 KW - Prozessoren KW - Test KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2008 N1 - BTU ER -