TY - GEN A1 - Martienssen, Marion A1 - Kaiser, A. A1 - Schirmer, M. A1 - Graf, W. A1 - Kutschke, S. A1 - Schulze, R. A1 - Thiede, K. T1 - Untersuchungen zum Einsatz von Rekultivierungs-/Methanoxidationsschichten auf Deponien des Landes Sachsen-Anhalt T2 - Müll und Abfall Y1 - 2008 VL - 40 IS - 5 SP - 247 EP - 253 ER - TY - GEN A1 - Wach, Alexander A1 - Preuß, Volker A1 - Koch, Roland A1 - Kaiser, S. T1 - Untersuchung von Auswirkungen der diskontinuierlichen Filtration über halbgebrannten Dolomit in der Trinkwasseraufbereitung T2 - GWF : Wasser, Abwasser Y1 - 2009 SN - 0016-3651 VL - 150 IS - 1 SP - 46 EP - 51 ER - TY - GEN A1 - Schöpke, Ralph A1 - Kaiser, S. A1 - Koch, Roland A1 - Regel, Ralf A1 - Striemann, Angelika T1 - Experimentelle Bemessung von Enteisenungsfiltern am Beispiel einer Solebehandlung T2 - GWF : Wasser, Abwasser Y1 - 2006 SN - 0016-3651 VL - 147 IS - 6 SP - 439 EP - 444 ER - TY - CHAP A1 - Abouzeid, Mohamed S. A1 - Lopacinski, Lukasz A1 - Grass, Eckhard A1 - Kaiser, Thomas A1 - Kraemer, Rolf T1 - Efficient and Low-Complexity Space Time Code for Massive MIMO RFID Systems T2 - Iberian Conference on Information Systems and Technologies (CISTI 2017), Lisbon, 2017 Y1 - 2017 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Abouzeid, Mohamed S. A1 - Zheng, Feng A1 - Gutierrez, Jesus A1 - Kaiser, Thomas A1 - Kraemer, Rolf T1 - A Novel Beamforming Algorithm for Massive MIMO Chipless RFID Systems T2 - Wireless Telecommunications Symposium (WTS), 26-28 April 2017, Chicago Y1 - 2017 SN - 978-1-5090-3599-1 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Gaudet, Matthieu A1 - Uhlig, Sebastian A1 - Stolz, Michael A1 - Arscott, S. A1 - Conrad, Holger A1 - Langa, Sergiu A1 - Kaiser, Bert A1 - Schenk, Harald T1 - Electrostatic bending actuators with liquid filled nanometer scale gap T2 - MEMS 2017, the 30th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems, Las Vegas, Nevada, USA, January 22-26 2017 Y1 - 2017 UR - http://ieeexplore.ieee.org/document/7863369/ SN - 978-1-5090-5078-9 SN - 978-1-5090-5079-6 SP - 175 EP - 178 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER -