TY - GEN A1 - Tabatt, Peter A1 - Jelonek, Jonas A1 - Schölzel, Mario A1 - Lehniger, Kai A1 - Langendörfer, Peter T1 - Code Mutation as a Mean Against ROP Attacks for Embedded Systems T2 - 11th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO 2022), Budva, Montenegro, 07-10 June 2022 Y1 - 2022 SN - 978-1-6654-6828-2 SN - 978-1-6654-6827-5 U6 - https://doi.org/10.1109/MECO55406.2022.9797185 SN - 2637-9511 ER - TY - CHAP A1 - Skoncej, Patryk A1 - Mühlbauer, Felix A1 - Schölzel, Mario ED - Cunningham, Douglas W. ED - Hofstedt, Petra ED - Meer, Klaus ED - Schmitt, Ingo T1 - Softwarebasierte Selbstreparatur von Flash-Speichern für fehlertolerante mikrocontroller-basierte Systeme T2 - Informatik 2015, Tagung vom 28. September – 2. Oktober 2015 in Cottbus Y1 - 2015 SN - 978-3-88579-640-4 SP - 1461 EP - 1473 PB - Gesellschaft für Informatik e.V. CY - Bonn ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Müller, Sebastian A1 - Scharoba, Stefan A1 - Röder, Stefanie A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Comprehensive Software-Based Self-Test and Self-Repair Method for Statically Scheduled Superscalar Processors T2 - 17th IEEE Latin-American Test Symposium - LATS 2016 Y1 - 2016 SN - 978-1-5090-1331-9 SP - 33 EP - 38 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Eggersglüß, S. A1 - Schölzel, Mario T1 - Erzeugung diagnostischer Testmuster unter komplexen Contraints T2 - Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 27. GI/GMM/ITG-Workshop, 1.-3. März 2015, Y1 - 2015 PB - Robert Bosch GmbH CY - Reutlingen ER - TY - RPRT A1 - Henkel, Karsten A1 - Paloumpa, Ioanna A1 - Oprea, A. A1 - Appel, Günter A1 - Schmeißer, Dieter A1 - Frandsen, W. A1 - Schölzel, Mario T1 - Entwicklung von Sensoren mit Elektroden aus leitfähigen Polymeren Y1 - 2000 N1 - Teilbericht 16SV335/7 im Gemeinsamen Abschlussbericht zum Verbundprojekt "Sensoren mit mikrostrukturierten Elektroden aus leitfähigen Polymeren", März 2000, Kurzfassung ER - TY - CHAP A1 - Müller, Sebastian A1 - Koal, Tobias A1 - Schölzel, Mario A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Timing for Virtual TMR in Logic Circuits T2 - IOLTS 2014, 20th IEEE International On-Line Testing Symposium Hotel Cap Roig, Platja d'Aro, Catalunya, Spain July 7-9, 2014 Y1 - 2014 SN - 978-1-4799-5324-0 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Schölzel, Mario A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Combining Fault Tolerance and Self Repair at Minimum Cost in Power and Hardware T2 - IEEE International Symposium DDECS 2014, Warschau Y1 - 2014 SN - 978-1-4799-4560-3 SP - 153 EP - 159 PB - IEEE CS Press ER - TY - CHAP A1 - Urban, Roberto A1 - Lehniger, Kai A1 - Heyne, Maximilian A1 - Schölzel, Mario A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Vergleich der Beschreibung und Simulation einer Befehlssatzarchitektur in LISA und CoMet T2 - MBMV 2014, Böblingen, Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen Y1 - 2014 SN - 978-3-95404-637-9 SP - 101 EP - 112 PB - Cuvillier Verlag CY - Göttingen ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario A1 - Pawlowski, Pawel A1 - Dabrowski, Adam T1 - Self Repair by Program Reconfiguration in VLIW Processor Architectures T2 - Design and test technology for dependable systems-on-chip Y1 - 2011 SN - 978-1-6096-0212-3 SP - 241 EP - 266 PB - Information Science Reference CY - Hershay, Pa. [u.a.] ER - TY - BOOK A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor A1 - Steininger, Andreas A1 - Pawlak, A. A1 - Kraemer, Rolf A1 - Schölzel, Mario A1 - Raik, Jaan T1 - Proceedings of the 14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Y1 - 2011 SN - 978-1-4244-9753-9 PB - Piscataway : IEEE, 2011 ER -