TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Basic Architecture for Logic Self Repair Y1 - 2008 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Eingebaute Selbstreparatur zur Kompensation von Produktions- und Alterungsfehlern Y1 - 2010 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Optimal Spare Utilization for Reliability and Men Litetime Improvement for Logic Built-in Self Repair T2 - Proceedings, IEEE DDECS 2011, Cottbus N2 - Tagungsbeitrag DDECS 2011, Cottbus KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2011 UR - www.computer.org SN - 978-1-4244-9753-9 N1 - IEEE Computer Society ER - TY - CHAP A1 - Ulbricht, Markus A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A New Hierarchical Built-In Test with On-Chip Diagnosis for VLIW Processors T2 - IEEE 14th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2011), Cottbus, Germany, 13 - 15 April 2011 N2 - Tagungsbeitrag DDECS 2011, Cottbus KW - Prozessoren KW - Test KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2011 UR - www.computer.org SN - 978-1-4244-9755-3 N1 - IEEE Computer Society SP - 143 EP - 146 ER - TY - CHAP A1 - Ulbricht, Markus A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A New Hiararchical Built-In SElf Test with On-Chip Diagnosis for VLIW Processors N2 - Tagungsbeitrag 23. ITG-Tagung "Test und Zuverlässigeit von Schaltungen und Systemen", Passau, 2011 KW - Prozessoren KW - Test KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2011 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Beck, Matthias-Stephan A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Rekonfigurierbare Logik für Ausbeute-Optimierung und Verschleiß-Kompensation N2 - Tagungsbeitrag ITG-GI-GMM-Tagung "Zuverlässigeit und Entwurf", Hamburg, 2011 KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Lebensdauer KW - Selbstreparatur Y1 - 2011 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren zur Fehlerkompensation und Selbstreparatur für hochintegrierte Schaltungen T2 - Zuverlässigkeit und Entwurf, 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 13. bis 15. September 2010 in Wildbad Kreuth KW - ICs KW - Fehler KW - Test KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-3-8007-3299-9 N1 - VDE SP - 57 EP - 62 PB - VDE-Verlag CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Software Based Self Test and Hardware Reconfiguration Solution for VLIW Processors T2 - 2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010 KW - Prozessoren KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-1-4244-6612-2 N1 - IEEE Computer Society SP - 40 EP - 43 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Combining De-Stressing and Self Repair for Long-Term Dependable Systems T2 - 2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010 KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Test KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-1-4244-6613-9 N1 - IEEE Computer Society SP - 99 EP - 104 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Gleichner, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik N2 - Tagungsbeitrag ITG-GI-GMM Workshop "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", Paderborn, Februar 2010 KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Comprehensive Scheme for Logic Self Repair T2 - Signal processing, SPA 2009, Poznan, 24th - 26th September 2009, conference proceedings KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 SN - 978-83-62065-00-4 N1 - BTU SP - 13 EP - 18 PB - Univ. of Technology, Fac. of Computing Science and Management CY - Poznan ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Concept for Logic Self Repair T2 - 12th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD '09, 27 - 29 Aug. 2009, Patras, Greece KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 SN - 978-1-424-44768-8 N1 - IEEE Computer Society SP - 621 EP - 624 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Reliability Estimation Process T2 - 12th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD '09, 27 - 29 Aug. 2009, Patras, Greece KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlertoleranz Y1 - 2009 SN - 978-1-424-44768-8 N1 - IEEE Computer Society SP - 221 EP - 224 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Schölzel, Mario A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Dependability and Life Time Enhancement for Nano-Electronic Systems T2 - Signal processing, SPA 2011, Poznan, 29 - 30th September 2011, conference proceedings KW - ICs KW - Mikroelektronik KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2011 SN - 978-83-62065-02-8 N1 - BTU SP - 61 EP - 67 PB - Univ. of Technology, Fac. of Computing, Chair of Control and System Engineering CY - Poznan ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Schölzel, Mario A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - On the Feasibility of Built-in Self Repair for Logic Circuits T2 - 2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2011), Vancouver, British Columbia, Canada, 3 - 5 October 2011 KW - ICs KW - Test KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2011 SN - 978-1-4577-1713-0 N1 - IEEE Computer Society SP - 316 EP - 324 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Gleichner, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Effective Logic Self Repair Based on Extracted Logic Clusters T2 - Signal Processing Algorithms, Architectures, Arrangements, and Applications Conference Proceedings (SPA), 2010, Poznan KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-1-4577-1485-6 N1 - BTU PB - IEEE ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Möglichkeiten und Grenzen der automatischen SBST-Generierung für einfache Prozessoren T2 - Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf - (DASS' 2007), 8. - 9. Mai 2007 KW - Prozessoren KW - Test KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2007 SN - 978-3-940046-28-4 N1 - BTU SP - 39 EP - 44 PB - TUDpress, Verl. der Wissenschaften CY - Dresden ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Möglichkeiten und Grenzen der Selbstreparatur für Logik T2 - Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf - (DASS'2008), Workshop Entwurf integrierter Schaltungen (WEIS'08) 15. - 16. Mai 2008 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2008 SN - 3-9810287-2-4 N1 - BTU PB - Fraunhofer Institut für integrierte Schaltungen CY - Dresden ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Selbstreparatur durch Regularisierung von Logik-Strukturen T2 - Zuverlässigkeit und Entwurf, 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 21. bis 23. September 2009 in Stuttgart KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 SN - 978-3-8007-3178-7 N1 - VDE SP - 29 EP - 36 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Scheme of Logic Self Repair Including Local Interconnects T2 - 12th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, DDECS, Liberec, Czech Republic, 15 - 17 April 2009 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 SN - 978-1-4244-3339-1 N1 - IEEE Computer Society PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Logik-Selbstreparatur auf der Basis elementarer Logik-Blöcke mit lokaler Redundanz N2 - Tagunsgbeitrag ITG / GMM / GI- Tagung "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", Bremen, Februar 2009 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Logic Self Repair Based on Regular Buidling Blocks N2 - Tagungsbeitrag ARCS2009-Workshop on Fault Tolerance, Delft, März 2009 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 N1 - VDI / VDE ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Möglichkeiten und Grenzen der Selbstreparatur für Logik T2 - Zuverlässigkeit und Entwurf, 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 29. September bis 1. Oktober 2008 in Ingolstadt KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlertoleranz Y1 - 2008 SN - 978-3-8007-3119-0 N1 - VDI / VDE SP - 57 EP - 64 PB - VDE-Verl. CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Systematic Generation of Diagnostic Software-Based Self-Test Routines for Processor Components T2 - 19th IEEE European Test Symposium (ETS), 26 May - 30 May 2014, Paderborn Y1 - 2014 SN - 978-1-4799-3415-7 PB - IEEE ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Scharoba, Stefan A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Multi-Layer Software Based Fault-Tolerance Approach for Heterogenous Multi-Core Systems T2 - 16th Latin-American Test Symposium (LATS 2015), Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015 Y1 - 2015 SN - 978-1-4673-6710-3 SP - 1 EP - 6 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scharoba, Stefan A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Exploring diagnostic capabilities of software-based self-tests for production and in-field application T2 - Proceedings of the 2015 IEEE International Workshop of Electronics, Control, Measurement, Signals and Their Application to Mechatronics (ECMSM), June 22-24, 2015, Liberec, Czech Republic Y1 - 2015 SN - 978-1-4799-6970-8 SN - 978-1-4799-6973-9 SP - 1 EP - 6 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Redundancy evaluation process of processor components for permanent fault compensation T2 - 2015 NASA/ESA Conference on Adaptive Hardware and Systems (AHS 2015), Montréal, Quebec, Canada, 15-18 June 2015 Y1 - 2015 SN - 978-1-4673-7501-6 SN - 978-1-4673-7502-3 SP - 1 EP - 6 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - GEN A1 - Scharoba, Stefan A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Correcting Delay Faults and Transient Faults in Pipelines T2 - 8. GMM/ITG/GI-Symposium Reliability by Design, Siegen, Germany, 21-23 Sept. 2015 Y1 - 2015 SN - 978-3-8007-4071-0 SP - 7 ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Müller, Sebastian A1 - Scharoba, Stefan A1 - Röder, Stefanie A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Comprehensive Software-Based Self-Test and Self-Repair Method for Statically Scheduled Superscalar Processors T2 - 17th IEEE Latin-American Test Symposium - LATS 2016 Y1 - 2016 SN - 978-1-5090-1331-9 SP - 33 EP - 38 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Eggersglüß, S. A1 - Schölzel, Mario T1 - Erzeugung diagnostischer Testmuster unter komplexen Contraints T2 - Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 27. GI/GMM/ITG-Workshop, 1.-3. März 2015, Y1 - 2015 PB - Robert Bosch GmbH CY - Reutlingen ER - TY - CHAP A1 - Müller, Sebastian A1 - Koal, Tobias A1 - Schölzel, Mario A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Timing for Virtual TMR in Logic Circuits T2 - IOLTS 2014, 20th IEEE International On-Line Testing Symposium Hotel Cap Roig, Platja d'Aro, Catalunya, Spain July 7-9, 2014 Y1 - 2014 SN - 978-1-4799-5324-0 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Schölzel, Mario A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Combining Fault Tolerance and Self Repair at Minimum Cost in Power and Hardware T2 - IEEE International Symposium DDECS 2014, Warschau Y1 - 2014 SN - 978-1-4799-4560-3 SP - 153 EP - 159 PB - IEEE CS Press ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Ulbricht, Markus A1 - Engelke, Piet A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Kombinierte On-Line-Fehlerkompensation und Selbstreparatur für Logik-Baugruppen T2 - Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 25. GI/GMM/ITG-Workshop, 24. bis 26. Februar 2013, Dresden Y1 - 2013 PB - Fraunhofer-Institut CY - Dresden ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Logic Self Repair Based on Regular Building Blocks T2 - Workshop proceedings, ARCS 2009, 22th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 11, 2009, Delft, The Netherlands Y1 - 2009 SN - 978-3-8007-3133-6 SP - 71 EP - 76 PB - VDE-Verl. CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Scharoba, Stefan A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Combined Detection and Correction of Transient Faults and Delay Faults T2 - ZuE 2015, Zuverlässigkeit und Entwurf, Beiträge der 8. GMM/ITG/GI-Fachtagung 21. – 23. September 2015 in Siegen Y1 - 2015 SN - 978-3-8007-4071-0 PB - VDE-Verlag CY - Berlin ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Built-in Self Repair for Logic Structures T2 - Design and test technology for dependable systems-on-chip Y1 - 2011 SN - 978-1-6096-0212-3 PB - Information Science Reference CY - Hershay, Pa. [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - SoC Self Test Based on a Test Processor T2 - Design an Test Technology for Dependable Systems on Chip Y1 - 2011 SN - 978-1-6096-0212-3 SP - 360 EP - 375 PB - IGI Global CY - Hershey [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Ulbricht, Markus A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor ED - Raik, Jaan T1 - Combining On-Line Fault Detection and Logic Self Repair T2 - IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2012), Tallin, Estonia, 18 - 20 April 2012 Y1 - 2012 SN - 978-1-4673-1185-4 SP - 288 EP - 293 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Reconfigurable High Performance Architectures T2 - 19th IEEE European Test Symposium (ETS), 26 May - 30 May 2014, Paderborn Y1 - 2014 SN - 978-1-4799-3415-7 PB - IEEE ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Probleme bei Erzeugung und simulationsbasierten Validierung softwarebasierter Selbsttests zur feingranularen Diagnose T2 - DASS 2014, Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf, Tagungsband Y1 - 2014 SN - 978-3-8396-0738-1 PB - Fraunhofer Verlag CY - Stuttgart ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Diagnostics self-test for dynamically scheduled superscalar processors based on reconfiguration techniques for handling permanent faults T2 - International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2014), Amsterdam, Netherlands, 1 - 3 October 2014 Y1 - 2014 SN - 978-1-4799-6155-9 SN - 978-1-4799-6156-6 SP - 27 EP - 32 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Ulbricht, Markus A1 - Engelke, Piet A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Selbstreparatur für Logik-Baugruppen mit erweiterten Fähigkeiten für die Kompensation von Fertigungsfehlern und Frühausfällen T2 - Dresdner Arbeitstagung für Schaltungs- und Systementwurf (DASS), Dresden, Mai 2012, Tagungsband Y1 - 2012 SN - 978-3-8396-0404-5 PB - Fraunhofer IIS, Institutsteil EAS [u.a.] CY - Dresden ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Ulbricht, Markus A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Virtual TMR Schemes Combining Fault Tolerance and Self Repair T2 - 16th IEEE International Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2013, 4-6 Sep 2013, Santander, Spain Y1 - 2013 SN - 978-0-7695-5074-9 SP - 235 EP - 242 PB - IEEE ER - TY - CHAP A1 - Ulbricht, Markus A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Activity Migration in M-of-N-Systems by Means of Loading-Balancing T2 - 15th Euromicro Conference on Digital Systems Design (DSD), September 2012 Y1 - 2012 SN - 978-1-4673-2498-4 SP - 258 EP - 263 PB - IEEE CY - Piscataway ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Ulbricht, Markus A1 - Engelke, Piet A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor ED - Drechsler, Rolf T1 - Logic Self Repair Architecture with Self Test Capabilities T2 - Zuverlässigkeit und Entwurf, 6. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 25. bis 27. September 2012 in Bremen Y1 - 2012 SN - 978-3-8007-3445-0 PB - VDE-Verl. CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Ulbricht, Markus A1 - Engelke, Piet A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor ED - Dietrich, Manfred T1 - On-Line-Test, Fehlerkorrektur znd Selbstreparatur mit Time-Shared TMR T2 - Tagungsband Dresdner Arbeitstagung für Schaltungs- und Systementwurf (DASS), April 2013 Y1 - 2013 SN - 978-3-8396-0545-5 PB - Fraunhofer-Verl. CY - Stuttgart ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Ulbricht, Markus A1 - Engelke, Piet A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor ED - Sekanina, Lukas T1 - On the Feasibility of Combining On-Line-Test and Self Repair for Logic Circuits T2 - 16th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2013), Karlovny Vary, April 2013 Y1 - 2013 SN - 978-1-4673-6135-4 PB - IEEE Computer Society ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Röder, Stephanie A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Towards an Automatic Generation of Diagnostic In-Field SBST for Processor Components T2 - Proceedings, 14th IEEE Latin American Test Workshop (LATW 2013) Y1 - 2013 PB - IEEE CY - Piscataway ER - TY - GEN A1 - Gleichner, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik N2 - 22. ITG/GI/GMM Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", 28.Feb.-02.März 2010 Y1 - 2010 ER - TY - CHAP A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor ED - Raik, Jaan T1 - An Adaptive Self-Test Routine for In-Field Diagnosis of Permanent Faults in Simple RISC Cores T2 - Proceedings, 15th IEEE Interantional Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Tallinn, April 2012 Y1 - 2012 SN - 978-1-4673-1185-4 SP - 312 EP - 317 PB - IEEE CY - Piscataway ER -