TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Basic Architecture for Logic Self Repair Y1 - 2008 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Eingebaute Selbstreparatur zur Kompensation von Produktions- und Alterungsfehlern Y1 - 2010 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Optimal Spare Utilization for Reliability and Men Litetime Improvement for Logic Built-in Self Repair T2 - Proceedings, IEEE DDECS 2011, Cottbus N2 - Tagungsbeitrag DDECS 2011, Cottbus KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2011 UR - www.computer.org SN - 978-1-4244-9753-9 N1 - IEEE Computer Society ER - TY - CHAP A1 - Ulbricht, Markus A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A New Hierarchical Built-In Test with On-Chip Diagnosis for VLIW Processors T2 - IEEE 14th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2011), Cottbus, Germany, 13 - 15 April 2011 N2 - Tagungsbeitrag DDECS 2011, Cottbus KW - Prozessoren KW - Test KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2011 UR - www.computer.org SN - 978-1-4244-9755-3 N1 - IEEE Computer Society SP - 143 EP - 146 ER - TY - CHAP A1 - Ulbricht, Markus A1 - Schölzel, Mario A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A New Hiararchical Built-In SElf Test with On-Chip Diagnosis for VLIW Processors N2 - Tagungsbeitrag 23. ITG-Tagung "Test und Zuverlässigeit von Schaltungen und Systemen", Passau, 2011 KW - Prozessoren KW - Test KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2011 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Beck, Matthias-Stephan A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Rekonfigurierbare Logik für Ausbeute-Optimierung und Verschleiß-Kompensation N2 - Tagungsbeitrag ITG-GI-GMM-Tagung "Zuverlässigeit und Entwurf", Hamburg, 2011 KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Lebensdauer KW - Selbstreparatur Y1 - 2011 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren zur Fehlerkompensation und Selbstreparatur für hochintegrierte Schaltungen T2 - Zuverlässigkeit und Entwurf, 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 13. bis 15. September 2010 in Wildbad Kreuth KW - ICs KW - Fehler KW - Test KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-3-8007-3299-9 N1 - VDE SP - 57 EP - 62 PB - VDE-Verlag CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Software Based Self Test and Hardware Reconfiguration Solution for VLIW Processors T2 - 2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010 KW - Prozessoren KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-1-4244-6612-2 N1 - IEEE Computer Society SP - 40 EP - 43 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Combining De-Stressing and Self Repair for Long-Term Dependable Systems T2 - 2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010 KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Test KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-1-4244-6613-9 N1 - IEEE Computer Society SP - 99 EP - 104 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Gleichner, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik N2 - Tagungsbeitrag ITG-GI-GMM Workshop "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", Paderborn, Februar 2010 KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 N1 - BTU ER -