TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor A1 - Coym, Torsten A1 - Vermeiren, W. A1 - Straube, B. T1 - Embedded Self Repair by Transistor and Gate Level Reconfiguration T2 - Design and Diagnostics of Electronic Circuits and systems, (DDECS 2006), Prag, April 2006 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2006 SN - 1-4244-0185-2 N1 - IEEE Computer Society SP - 208 EP - 213 PB - IEEE ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Habermann, Sven A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor A1 - Coym, Torsten A1 - Vermeiren, W. A1 - Straube, B. T1 - Selbstreparatur von Logik-Baugruppen in hochintegrieten Schaltungen- Möglichkeiten und Grenzen T2 - Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS'2006), 10. - 11. Mai 2006 KW - ICs KW - SoCs KW - Fehlertoleranz KW - Selbstreparatur Y1 - 2006 PB - Fraunhofer-Institut CY - Dresden ER -