TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Pflanz, Matthias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Test Processor Concept for Systems-on-a-Chip Y1 - 2002 ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Grabow, M. A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Kompaktierung von Testmustern für den Test von SoCs mittels einer Testprozessor-Architektur Y1 - 2003 ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Grabow, M. A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Test Pattern De-/Compaction for SoC Test in a Test Processor Environment Y1 - 2003 ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Grabow, M. A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Perspectives of combining online and offline test technology for dependable systems on a chip T2 - Proceedings, 9th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2003, 7 - 9 July 2003, Kos International Convention Center, Kos Island, Greece Y1 - 2003 SN - 0-7695-1968-7 SP - 183 EP - 187 PB - IEEE CY - Los Alamitos, Calif. [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Kretzschmar, Claudia A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Hierarchical Self Test Scheme for SoCs Y1 - 2004 ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Multi-Purpose Concept for SoC Self Test Including Diagnostics Features T2 - 11th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2005, IOLTS 2005, 6 - 8 July 2005, [Saint Raphael, French Riviera, France, proceedings] Y1 - 2005 SN - 0-7695-2406-0 SP - 241 EP - 246 PB - Los Alamitos, Calif. [u.a.] CY - IEEE Computer Society ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Logic Self Repair T2 - Workshop proceedings, ARCS '06, 19th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 16, 2006, Frankfurt am Main Y1 - 2006 SN - 978-3-88579-175-1 SP - 36 EP - 44 PB - Ges. für Informatik CY - Bonn ER - TY - CHAP A1 - Pflanz, Matthias A1 - Walther, Karsten A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - On-Line Error Detection and Correction in Storage Elements with Cross-Parity Check T2 - Proceedings of the Eighth IEEE International On-Line Testing Workshop, (IOLTW 2002), 8 - 10 July 2002, Isle of Bendor, France Y1 - 2002 SN - 0-7695-1641-6 SP - 69 EP - 73 PB - IEEE Computer Society CY - Los Alamitos, Calif. [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Pflanz, Matthias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - On-Line Detection and Compensation of Transient Errors in Processor Pipeline Structurs T2 - Proceedings of the Eighth IEEE International On-Line Testing Workshop, (IOLTW 2002), 8 - 10 July 2002, Isle of Bendor, France Y1 - 2002 SN - 0-7695-1641-6 PB - IEEE Computer Society CY - Los Alamitos, Calif. [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Mohaupt, Thomas A1 - Pflanz, Matthias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Hardware/Software Based Test Techniques for Systems on a Chip with Embedded Processors Y1 - 2002 SN - 1437-7969 ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Pflanz, Matthias A1 - Hennig, Hardy A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor ED - Wagner, Ralph T1 - Hardware/Software basierter Selbsttest für System on a Chip (SOCs) mit eingebetteten Prozessoren Y1 - 2002 ER - TY - CHAP A1 - Frost, Raik A1 - Rudolph, D. A1 - Galke, Christian A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Configurable Modular Test Processor and Scan Controller Architecture T2 - Proceedings, IOLTS 2007, 13th IEEE International On-Line Testing Symposium, Heraklion, Crete, Greece, 8 - 11 July 2007 KW - ICs KW - SoCs KW - Test KW - Selbsttest Y1 - 2007 SN - 0-7695-2918-6 N1 - IEEE Computer Society SP - 277 EP - 284 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Möglichkeiten und Grenzen der automatischen SBST-Generierung für einfache Prozessoren T2 - Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf - (DASS' 2007), 8. - 9. Mai 2007 KW - Prozessoren KW - Test KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2007 SN - 978-3-940046-28-4 N1 - BTU SP - 39 EP - 44 PB - TUDpress, Verl. der Wissenschaften CY - Dresden ER - TY - CHAP A1 - Schwabe, Hanko A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Ein funktionales Selbsttest-Konzept für Prozessor-Strukturen am Beispiel des Testprozessors T5016p Y1 - 2004 ER - TY - CHAP A1 - Pflanz, Matthias A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A New Method for On-Line State Machine Observation for Embedded Microprocessors Y1 - 2000 ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Galke, Christian A1 - Schultke, Sabine A1 - Fröschke, Henry A1 - Gaede, Steffen A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Hardware/Software Based Hierarchical Self Test for SoCs T2 - Proceedings of the 2006 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, April 18-21, 2006, Prague, Czech Republic Y1 - 2006 SN - 1-4244-0185-2 SP - 157 EP - 158 PB - IEEE Service Center CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Misera, Silvio A1 - Fröschke, Henry A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor ED - Hellebrand, Sybille T1 - Eine Simulationsumgebung zur Validierung des Fehlerverhaltens für Prozessor-basierte Systeme T2 - Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 17. ITG/GI/GMM Workshop, 27. Febr. - 1. März 2005, Hilton Innsbruck, Österreich Y1 - 2005 CY - Freiburg ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor A1 - Misera, Silvio A1 - Fröschke, Henry T1 - Parallele hierarchische Fehlersimulation zur Validierung des Fehlerverhaltens für SoCs T2 - GI/ITG/GMM-Workshop Modellierung und Verifikation, 2005 an der TU München Y1 - 2005 CY - München ER - TY - CHAP A1 - Gätzschmann, Uwe A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor A1 - Kaibel, M. T1 - Ein flexibler Ansatz für den Scan-Test von SoCs Y1 - 2005 ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Kothe, René A1 - Schultke, Sabine A1 - Winkler, Christin A1 - Honko, Jeanette A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Embedded Scan Test with Diagnostic Features for Self-Testing SoCs T2 - Proceedings - IOLTS 2006, 12th IEEE International On-Line Testing Symposium, Lake of Como, Italy, July 10 - 12, 2006 KW - ICs KW - Test KW - Selbsttest Y1 - 2006 SN - 978-0-7695-2620-1 N1 - IEEE Computer Society SP - 181 EP - 182 PB - IEEE Computer Society CY - Los Alamitos, Calif. [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Gätzschmann, Uwe A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Scan-Based SoC Test Using Space / Time Pattern Compaction Schemes N2 - Konferenzbeitrag 9. EuroMicro-Conference on Digital System Design (DSD 2006),Sept. 2006, Dubrovnik KW - ICs KW - SoCs KW - Test KW - Test Compression Y1 - 2006 N1 - IEEE Computer Society ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Redundanz-Management und Fehlerisolierung für die Selbstreparatur in digitalen und analogen Schaltungen T2 - ANALOG '06, Vorträge der 9. ITG/GMM-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2006 in Dresden KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2006 SN - 978-3-8007-2988-3 SP - 57 EP - 62 PB - VDE-Verlag CY - Berlin [u.a] ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Pflanz, Matthias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Detection and Compensation of Transient Errors in Processor Structures Y1 - 2003 ER -