TY - CHAP A1 - Habermann, Sven A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Built-in Self Repair by Reconfiguration of FPGAs T2 - Proceedings - IOLTS 2006, 12th IEEE International On-Line Testing Symposium, Lake of Como, Italy, July 10 - 12, 2006 KW - ICs KW - FPGAs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2006 SN - 978-0-7695-2620-1 N1 - IEEE Computer Society SP - 187 EP - 188 PB - IEEE Computer Society CY - Los Alamitos, Calif [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Vick, Axel A1 - Rossmann, Helmut A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Timing-Power-getriebener Layout-Entwurf für Zellen-basierte Digitalschaltungen T2 - Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, 9. ITG/GI/GMM Workshop, 20. - 22. Februar 2006, Dresden KW - ICs KW - Layout KW - Synthese KW - Timing KW - Power Y1 - 2006 N1 - BTU SP - 61 EP - 69 CY - Dresden ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Kothe, René A1 - Schultke, Sabine A1 - Winkler, Christin A1 - Honko, Jeanette A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Embedded Scan Test with Diagnostic Features for Self-Testing SoCs T2 - Proceedings - IOLTS 2006, 12th IEEE International On-Line Testing Symposium, Lake of Como, Italy, July 10 - 12, 2006 KW - ICs KW - Test KW - Selbsttest Y1 - 2006 SN - 978-0-7695-2620-1 N1 - IEEE Computer Society SP - 181 EP - 182 PB - IEEE Computer Society CY - Los Alamitos, Calif. [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor A1 - Coym, Torsten A1 - Vermeiren, W. A1 - Straube, B. T1 - Embedded Self Repair by Transistor and Gate Level Reconfiguration T2 - Design and Diagnostics of Electronic Circuits and systems, (DDECS 2006), Prag, April 2006 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2006 SN - 1-4244-0185-2 N1 - IEEE Computer Society SP - 208 EP - 213 PB - IEEE ER - TY - CHAP A1 - Misera, Silvio Andre A1 - Sieber, André A1 - Breitenfeld, Lars A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Eine Mixed-Language-Fault-Simulation von VHDL- und SystemC-Modellen T2 - Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS'2006), 10. - 11. Mai 2006 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlersimulation Y1 - 2006 N1 - BTU PB - Fraunhofer-Institut CY - Dresden ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Habermann, Sven A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor A1 - Coym, Torsten A1 - Vermeiren, W. A1 - Straube, B. T1 - Selbstreparatur von Logik-Baugruppen in hochintegrieten Schaltungen- Möglichkeiten und Grenzen T2 - Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS'2006), 10. - 11. Mai 2006 KW - ICs KW - SoCs KW - Fehlertoleranz KW - Selbstreparatur Y1 - 2006 PB - Fraunhofer-Institut CY - Dresden ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Galke, Christian A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Redundanz-Management und Fehlerisolierung für die Selbstreparatur in digitalen und analogen Schaltungen T2 - ANALOG '06, Vorträge der 9. ITG/GMM-Fachtagung vom 27. bis 29. September 2006 in Dresden KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2006 SN - 978-3-8007-2988-3 SP - 57 EP - 62 PB - VDE-Verlag CY - Berlin [u.a] ER - TY - CHAP A1 - Galke, Christian A1 - Gätzschmann, Uwe A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Scan-Based SoC Test Using Space / Time Pattern Compaction Schemes N2 - Konferenzbeitrag 9. EuroMicro-Conference on Digital System Design (DSD 2006),Sept. 2006, Dubrovnik KW - ICs KW - SoCs KW - Test KW - Test Compression Y1 - 2006 N1 - IEEE Computer Society ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor ED - Sattler, Sebastian T1 - Reparaturfunktionen für Bus-Strukturen auf SoCs T2 - Zuverlässigkeit und Entwurf, 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 26. bis 28. März 2007 in München KW - ICs KW - SoCs KW - Test KW - Selbstreparatur Y1 - 2007 SN - 978-3-8007-3023-0 SN - 3-8007-3023-5 SP - 77 EP - 84 PB - VDE-Verl. CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Repair Functions and Redundancy Management for Bus Structures T2 - Workshop proceedings, ARCS 2007, 20th International Conference on Architecture of Computing Systems, March 15, 2007, Zurich, Switzerland KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlertoleranz Y1 - 2007 SN - 978-3-8007-3015-5 N1 - VDI / VDE PB - VDE-Verlag CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor ED - Dabrowski, Adam T1 - An Embedded Test Strategy for Global and Regiional Interconnects on SoCs T2 - Signal processing '2006, workshop proceedings, Poznan, 29th September 2006 KW - Bus-Test KW - ICs KW - Test Y1 - 2006 SN - 83-913251-7-2 SP - 65 EP - 70 CY - Poznan ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Flip-Flops and Scan Path Elements for Nanoelectronics T2 - Proceedings, Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS '07, Krakow, 11 - 13 April 2007 KW - ICs KW - Test KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlertoleranz Y1 - 2007 SN - 1-4244-1162-9 N1 - IEEE Computer Society PB - IEEE ER - TY - CHAP A1 - Frost, Raik A1 - Rudolph, D. A1 - Galke, Christian A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Configurable Modular Test Processor and Scan Controller Architecture T2 - Proceedings, IOLTS 2007, 13th IEEE International On-Line Testing Symposium, Heraklion, Crete, Greece, 8 - 11 July 2007 KW - ICs KW - SoCs KW - Test KW - Selbsttest Y1 - 2007 SN - 0-7695-2918-6 N1 - IEEE Computer Society SP - 277 EP - 284 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Sieber, André A1 - Misera, Silvio Andre A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Fault Injection Techniques and their Acccelerated Simulation in SystemC T2 - Proceedings, 10th Euromicro Conference on Digital System Design: Architectures, Methods and Tools, DSD 2007, 29 - 31 August 2007, Lübeck, Germany KW - ICs KW - Test KW - Fehlersimulation Y1 - 2007 SN - 978-0-7695-2978-3 N1 - IEEE Computer Society SP - 587 EP - 595 PB - IEEE Computer Society CY - Los Alamitos, Calif. [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Embedded Fault Diagnosis Exploiting Regularity N2 - Tagungsbeitrag IEEE SPA07, Poznan KW - ICs KW - SoCs KW - Fehler KW - Test KW - Diagnose Y1 - 2007 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Möglichkeiten und Grenzen der Selbstreparatur für Logik T2 - Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf - (DASS'2008), Workshop Entwurf integrierter Schaltungen (WEIS'08) 15. - 16. Mai 2008 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2008 SN - 3-9810287-2-4 N1 - BTU PB - Fraunhofer Institut für integrierte Schaltungen CY - Dresden ER - TY - CHAP A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Fehlertolerante Busse basierend auf Codes und Selbstreparatur N2 - Tagungsbeitrag 2. GMM/GI/ITG-Arbeitstagung "Zuverlässigkeit und Entwurf", Ingolstadt, Sept. 2008 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2008 N1 - VDI / VDE ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Möglichkeiten und Grenzen der Selbstreparatur für Logik T2 - Zuverlässigkeit und Entwurf, 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 29. September bis 1. Oktober 2008 in Ingolstadt KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlertoleranz Y1 - 2008 SN - 978-3-8007-3119-0 N1 - VDI / VDE SP - 57 EP - 64 PB - VDE-Verl. CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Logic Self Repair Based on Regular Buidling Blocks N2 - Tagungsbeitrag ARCS2009-Workshop on Fault Tolerance, Delft, März 2009 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 N1 - VDI / VDE ER - TY - CHAP A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Logic Self Repair based on Regular Building Blocks N2 - Konferenzbeitrag IEEE NTAV / SPA, Poznan, Sept. 2008 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2008 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Logik-Selbstreparatur auf der Basis elementarer Logik-Blöcke mit lokaler Redundanz N2 - Tagunsgbeitrag ITG / GMM / GI- Tagung "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", Bremen, Februar 2009 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Scheme of Logic Self Repair Including Local Interconnects T2 - 12th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, DDECS, Liberec, Czech Republic, 15 - 17 April 2009 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 SN - 978-1-4244-3339-1 N1 - IEEE Computer Society PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Zentrale und dezentrale Selbstreparatur von Bussen T2 - Proceedings, EdaWorkshop 09, Dresden (Germany), May 26 - 28, 2009 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlertoleranz Y1 - 2009 SN - 978-3-8007-3165-7 N1 - VDE SP - 37 EP - 42 PB - VDE-Verlag CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Zentrale und dezentrale Selbstreparatur von Bussen N2 - Tagungsband ITG-GI-GMM- Workshop "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", Bremen, 2009 KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Reliability Estimation Process T2 - 12th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD '09, 27 - 29 Aug. 2009, Patras, Greece KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlertoleranz Y1 - 2009 SN - 978-1-424-44768-8 N1 - IEEE Computer Society SP - 221 EP - 224 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Selbstreparatur durch Regularisierung von Logik-Strukturen T2 - Zuverlässigkeit und Entwurf, 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 21. bis 23. September 2009 in Stuttgart KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 SN - 978-3-8007-3178-7 N1 - VDE SP - 29 EP - 36 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Comprehensive Scheme for Logic Self Repair T2 - Signal processing, SPA 2009, Poznan, 24th - 26th September 2009, conference proceedings KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 SN - 978-83-62065-00-4 N1 - BTU SP - 13 EP - 18 PB - Univ. of Technology, Fac. of Computing Science and Management CY - Poznan ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - A Concept for Logic Self Repair T2 - 12th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD '09, 27 - 29 Aug. 2009, Patras, Greece KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2009 SN - 978-1-424-44768-8 N1 - IEEE Computer Society SP - 621 EP - 624 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Combining De-Stressing and Self Repair for Long-Term Dependable Systems T2 - 2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010 KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Test KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-1-4244-6613-9 N1 - IEEE Computer Society SP - 99 EP - 104 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Gleichner, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik N2 - Tagungsbeitrag ITG-GI-GMM Workshop "Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", Paderborn, Februar 2010 KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 N1 - BTU ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren zur Fehlerkompensation und Selbstreparatur für hochintegrierte Schaltungen T2 - Zuverlässigkeit und Entwurf, 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 13. bis 15. September 2010 in Wildbad Kreuth KW - ICs KW - Fehler KW - Test KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-3-8007-3299-9 N1 - VDE SP - 57 EP - 62 PB - VDE-Verlag CY - Berlin [u.a.] ER - TY - CHAP A1 - Gleichner, Christian A1 - Koal, Tobias A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Effective Logic Self Repair Based on Extracted Logic Clusters T2 - Signal Processing Algorithms, Architectures, Arrangements, and Applications Conference Proceedings (SPA), 2010, Poznan KW - ICs KW - SoCs KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2010 SN - 978-1-4577-1485-6 N1 - BTU PB - IEEE ER - TY - CHAP A1 - Kothe, René A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Test Data and Power Reductions for Transition Delay Tests for Massive Parallel Scan Structures T2 - 2010 13th Euromicro Conference on Digital System Design, Architectures, Methods and Tools (DSD 2010), Lille, France, 1 - 3 September 2010 KW - ICs KW - Test KW - low-power Y1 - 2010 N1 - IEEE Computer Society SP - 283 EP - 290 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Scheit, Daniel A1 - Schölzel, Mario A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - On the Feasibility of Built-in Self Repair for Logic Circuits T2 - 2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2011), Vancouver, British Columbia, Canada, 3 - 5 October 2011 KW - ICs KW - Test KW - Zuverlässigkeit KW - Selbstreparatur Y1 - 2011 SN - 978-1-4577-1713-0 N1 - IEEE Computer Society SP - 316 EP - 324 PB - IEEE CY - Piscataway, NJ ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Beck, Matthias-Stephan A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Rekonfigurierbare Logik für Ausbeute-Optimierung und Verschleiß-Kompensation N2 - Tagungsbeitrag ITG-GI-GMM-Tagung "Zuverlässigeit und Entwurf", Hamburg, 2011 KW - ICs KW - Zuverlässigkeit KW - Lebensdauer KW - Selbstreparatur Y1 - 2011 ER - TY - CHAP A1 - Koal, Tobias A1 - Schölzel, Mario A1 - Vierhaus, Heinrich Theodor T1 - Dependability and Life Time Enhancement for Nano-Electronic Systems T2 - Signal processing, SPA 2011, Poznan, 29 - 30th September 2011, conference proceedings KW - ICs KW - Mikroelektronik KW - Zuverlässigkeit Y1 - 2011 SN - 978-83-62065-02-8 N1 - BTU SP - 61 EP - 67 PB - Univ. of Technology, Fac. of Computing, Chair of Control and System Engineering CY - Poznan ER -