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    <publisherName>Deutsche Physikalische Gesellschaft</publisherName>
    <publisherPlace>Bad Honnef</publisherPlace>
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    <completedDate>2016-09-16</completedDate>
    <publishedDate>--</publishedDate>
    <thesisDateAccepted>--</thesisDateAccepted>
    <title language="deu">Spektro-Mikroskopie auf multikristallinem Silizium</title>
    <abstract language="deu">Es werden spektro-mikroskopische Untersuchungen an multikristallinem Silizium (mc-Si) vorgestellt, einem aussichtsreichen Material für die Herstellung preiswerter Solarzellen. Dazu wird ein Photoemissions- Elektronenmikroskop (PEEM) ausgestattet mit einem zusätzlichen Energieanalysator für Elektronen (µESCA) genutzt. Bei Verwendung eines Synchrotrons als Anregungsquelle ist es so möglich, sowohl Absorbtions-Spektren (NEXAFS) als auch Photoelektronen-Spektren (PES) mit Ortsauflösung zu erhalten.&#13;
&#13;
Dabei wird gezeigt, dass das natürliche Oxid zur Untersuchung der morphologie-abhängigen Oberflächenpotentiale nicht entfernt werden muss. Des Weiteren wird die Verteilung von Ca- und Na-Ausscheidungen, die auf dem mc-Si gefunden wurden, durch ortsaufgelöstes NEXAFS bzw. PES dargestellt.&#13;
&#13;
Für den Photoemissions-Prozess des mc-Si im PEEM wird ein Modell aufgestellt, welches Photoemission mit einer Quecksilberdampflampe (hνmax = 4,9 eV) erklärt.</abstract>
    <parentTitle language="deu">Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft</parentTitle>
    <identifier type="url">http://www.dpg-verhandlungen.de/year/2000/conference/regensburg/part/hl/session/16/contribution/10?lang=en</identifier>
    <enrichment key="UBICOseries">Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft ; Reihe 6, Band 35</enrichment>
    <enrichment key="BTU">an der BTU erstellt / created at BTU</enrichment>
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      <lastName>Hoffmann</lastName>
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      <firstName>Karsten</firstName>
      <lastName>Henkel</lastName>
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      <firstName>Ricardo Pablo</firstName>
      <lastName>Mikalo</lastName>
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      <firstName>Dieter</firstName>
      <lastName>Schmeißer</lastName>
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      <value>mc-Si</value>
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      <value>Solarzellen</value>
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      <value>Röntgen-Absorptionsspektroskopie (XAS, NEXAFS)</value>
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      <value>Photoemissionselektronenspektroskopie (PEEM)</value>
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    <collection role="institutes" number="1503">FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie</collection>
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    <publishedYear>1998</publishedYear>
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    <completedDate>2016-09-16</completedDate>
    <publishedDate>--</publishedDate>
    <thesisDateAccepted>--</thesisDateAccepted>
    <title language="deu">PEEM-Untersuchung an Spaltflächen von MoTe2-(0001)</title>
    <abstract language="deu">Molybdänditellurid (MoTe2) gehört zu den Schichtgitterverbindung und ist im allgemeinen durch den Herstellungsprozeß n-dotiert. Proben dieses MoTe2 wurden im Ultrahochvakuum gespalten und die so erhaltenen sauberen (0001)-Spaltflächen mit einem Photoemissions-Elektronenmikroskop (PEEM) untersucht. Diese Untersuchung erbrachte nebeneinander auf den Proben- oberflächen liegende stark kontrastierte helle und dunkle Bereiche. Da das PEEM Austrittsarbeitsunterschiede als Kontrast darstellt, können diese hellen und dunklen Bereiche auf lokale Unterschiede in der Austrittsarbeit zurückgeführt werden. Weiterhin wird über den Versuch berichtet, eine Zuordnung zwischen dem Kontrast und dem Unterschied in der Austrittsarbeit mit Hilfe eines Elektronenenergie-Analysators (micro-ESCA) zu treffen.</abstract>
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    <identifier type="url">http://www.dpg-verhandlungen.de/year/1998/conference/regensburg/part/o/session/5/contribution/5?lang=en</identifier>
    <enrichment key="UBICOseries">Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft ; Reihe 6, Band 33</enrichment>
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      <value>Austrittsarbeit</value>
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