@inproceedings{HoffmannMikaloSchmeisseretal., author = {Hoffmann, Patrick and Mikalo, Ricardo Pablo and Schmeißer, Dieter and Kittler, Martin}, title = {Spektro-Mikroskopie auf multikristallinem Silizium}, series = {Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft}, booktitle = {Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft}, publisher = {Deutsche Physikalische Gesellschaft}, address = {Bad Honnef}, abstract = {Es werden spektro-mikroskopische Untersuchungen an multikristallinem Silizium (mc-Si) vorgestellt, einem aussichtsreichen Material f{\"u}r die Herstellung preiswerter Solarzellen. Dazu wird ein Photoemissions- Elektronenmikroskop (PEEM) ausgestattet mit einem zus{\"a}tzlichen Energieanalysator f{\"u}r Elektronen (µESCA) genutzt. Bei Verwendung eines Synchrotrons als Anregungsquelle ist es so m{\"o}glich, sowohl Absorbtions-Spektren (NEXAFS) als auch Photoelektronen-Spektren (PES) mit Ortsaufl{\"o}sung zu erhalten. Dabei wird gezeigt, dass das nat{\"u}rliche Oxid zur Untersuchung der morphologie-abh{\"a}ngigen Oberfl{\"a}chenpotentiale nicht entfernt werden muss. Des Weiteren wird die Verteilung von Ca- und Na-Ausscheidungen, die auf dem mc-Si gefunden wurden, durch ortsaufgel{\"o}stes NEXAFS bzw. PES dargestellt. F{\"u}r den Photoemissions-Prozess des mc-Si im PEEM wird ein Modell aufgestellt, welches Photoemission mit einer Quecksilberdampflampe (hνmax = 4,9 eV) erkl{\"a}rt.}, language = {de} } @inproceedings{HoffmannMikaloSchmeisser, author = {Hoffmann, Patrick and Mikalo, Ricardo Pablo and Schmeißer, Dieter}, title = {PEEM-Untersuchung an Spaltfl{\"a}chen von MoTe2-(0001)}, series = {Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft}, booktitle = {Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft}, publisher = {Deutsche Physikalische Gesellschaft}, address = {Bad Honnef}, abstract = {Molybd{\"a}nditellurid (MoTe2) geh{\"o}rt zu den Schichtgitterverbindung und ist im allgemeinen durch den Herstellungsprozeß n-dotiert. Proben dieses MoTe2 wurden im Ultrahochvakuum gespalten und die so erhaltenen sauberen (0001)-Spaltfl{\"a}chen mit einem Photoemissions-Elektronenmikroskop (PEEM) untersucht. Diese Untersuchung erbrachte nebeneinander auf den Proben- oberfl{\"a}chen liegende stark kontrastierte helle und dunkle Bereiche. Da das PEEM Austrittsarbeitsunterschiede als Kontrast darstellt, k{\"o}nnen diese hellen und dunklen Bereiche auf lokale Unterschiede in der Austrittsarbeit zur{\"u}ckgef{\"u}hrt werden. Weiterhin wird {\"u}ber den Versuch berichtet, eine Zuordnung zwischen dem Kontrast und dem Unterschied in der Austrittsarbeit mit Hilfe eines Elektronenenergie-Analysators (micro-ESCA) zu treffen.}, language = {de} }