TY - CONF A1 - Jehring, Lothar A1 - Zanoun, El-Sayed A1 - Egbers, Christoph T1 - Untersuchung von ebenen Wandgrenzschichten mit verschiedenen optischen Messverfahren, Fachtagung Y1 - 2007 UR - https://opus4.kobv.de/opus4-UBICO/frontdoor/index/index/docId/3607 ER -